Article (Scientific journals)
Inférence statistique et critères de qualité de l'ajustement en régression logistique binaire
Palm, Rodolphe; Brostaux, Yves; Claustriaux, Jean-Jacques
2011In Notes de Statistique et d'Informatique, (5), p. 32
 

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Abstract :
[en] The principles of statistical inference based on the maximum likelihood function are described and applied to binary logistic regression. Several goodness of fit statistics are also given. These topics are illustrated by an example processed by Minitab and SAS softwares.
[fr] Les principes de l'inférence statistique basée sur la fonction de vraisemblance sont rappelés et ensuite appliqués à la régression logistique binaire. Différents critères globaux d'ajustement de la régression logistique binaire sont également présentés. Les diverses notions sont illustrées par un exemple traité par le logiciel Minitab et par le logiciel SAS.
Disciplines :
Mathematics
Life sciences: Multidisciplinary, general & others
Author, co-author :
Palm, Rodolphe ;  Université de Liège - ULiège > Sciences agronomiques > Statistique, Inform. et Mathém. appliquée à la bioingénierie
Brostaux, Yves  ;  Université de Liège - ULiège > Sciences agronomiques > Statistique, Inform. et Mathém. appliquée à la bioingénierie
Claustriaux, Jean-Jacques ;  Université de Liège - ULiège > Sciences agronomiques > Statistique, Inform. et Mathém. appliquée à la bioingénierie
Language :
French
Title :
Inférence statistique et critères de qualité de l'ajustement en régression logistique binaire
Publication date :
October 2011
Journal title :
Notes de Statistique et d'Informatique
Publisher :
Gembloux Agro-Bio Tech (GxABT). Unité de Statistique, Informatique et Mathématiques Appliquées (SIMa), Gembloux, Belgium
Issue :
5
Pages :
32
Available on ORBi :
since 22 March 2012

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