Poster (Scientific congresses and symposiums)
A Perturbation Finite Element Technique for Modeling Electrostatic MEMS
Boutaayamou, Mohamed; Vazquez Sabariego, Ruth; Dular, Patrick
2008MEMS and Nanotechnology through Science and Applications - Scientific Day of NanoWal
 

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Keywords :
méthode de perturbation; méthode des éléments finis; MEMS; perturbation method; finite element method
Research center :
Applied and Computational Electromagnetics (ACE) - Department of Electrical Engineering and Computer Science – University of Liège
Disciplines :
Electrical & electronics engineering
Author, co-author :
Boutaayamou, Mohamed ;  Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Exploitation des signaux et images
Vazquez Sabariego, Ruth ;  Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Applied and Computational Electromagnetics (ACE)
Dular, Patrick ;  Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Applied and Computational Electromagnetics (ACE)
Language :
English
Title :
A Perturbation Finite Element Technique for Modeling Electrostatic MEMS
Publication date :
18 March 2008
Event name :
MEMS and Nanotechnology through Science and Applications - Scientific Day of NanoWal
Event organizer :
Université Catholique de Louvain
Event place :
Louvain-la-Neuve, Belgium
Event date :
18 mars 2008
Name of the research project :
Projet ARC (Convention 03/08-298, “Modélisation, Simulation Multiphysique et Optimisation de Problèmes Couplés - Application aux Micro-Systèmes Électromécaniques (MEMS)”)
Funders :
FWB - Fédération Wallonie-Bruxelles [BE]
Available on ORBi :
since 25 January 2012

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