Cadre méthodologique pour l'inspection visuelle assistée par IA du patrimoine bâti

Poster (Scientific congresses and symposiums)

Boutet, Simon

2026 • EDT62 - Séminaire annuel de l’Ecole doctorale thématique en Architecture, Urbanisme, Ingénierie architecturale et urbaine

Permalink
https://hdl.handle.net/2268/345376

2026-05-24_Poster EDT62 Simon BOUTET.pdf

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Keywords :

Computer vision; Pathologies; Patrimoine bâti

Research Center/Unit :

AAP - Art, Archéologie et Patrimoine - ULiège

Disciplines :

Architecture

Author, co-author :

Boutet, Simon ; Université de Liège - ULiège > Département d'Architecture

Language :

French

Title :

Cadre méthodologique pour l'inspection visuelle assistée par IA du patrimoine bâti

Alternative titles :

[en] Methodological Framework for AI-Assisted Visual Inspection Protocols in Built Heritage

Publication date :

28 May 2026

Event name :

EDT62 - Séminaire annuel de l’Ecole doctorale thématique en Architecture, Urbanisme, Ingénierie architecturale et urbaine

Event organizer :

Claudine Houbart

Event place :

Liège, Belgium

Event date :

28-05-26

Available on ORBi :

since 26 May 2026

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