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Smearing scheme for finite-temperature electronic-structure calculations - 2002
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Article (Périodiques scientifiques)
Smearing scheme for finite-temperature electronic-structure calculations
Verstraete, Matthieu
;
Gonze, X.
2002
•
In
Physical Review. B, Condensed Matter, 65
, p. 035111
Peer reviewed vérifié par ORBi
Permalien
https://hdl.handle.net/2268/25689
DOI
10.1103/PhysRevB.65.035111
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Détails
Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
Verstraete, Matthieu
;
Université Catholique de Louvain - UCL > Département de sciences appliquées
Gonze, X.
Langue du document :
Anglais
Titre :
Smearing scheme for finite-temperature electronic-structure calculations
Date de publication/diffusion :
2002
Titre du périodique :
Physical Review. B, Condensed Matter
ISSN :
0163-1829
eISSN :
1095-3795
Maison d'édition :
American Institute of Physics (AIP), New York, Etats-Unis - New York
Volume/Tome :
65
Pagination :
035111
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Disponible sur ORBi :
depuis le 15 octobre 2009
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