| Electronic Speckle Pattern Interferometry at Long Infrared Wavelengths. Scattering Requirements |
| English |
| Vandenrijt, Jean-François [Université de Liège - ULiège > > CSL (Centre Spatial de Liège) >] |
| Thizy, Cédric [Université de Liège - ULiège > > CSL (Centre Spatial de Liège) >] |
| Alexeenko, Igor [Universität Stuttgart > Institut für Technische Optik > > >] |
| Jorge, Iagoba [Centro de Tecnologias Aeronauticas > > > >] |
| Lopez, Ion [Centro de Tecnologias Aeronauticas > > > >] |
| Saez de Ocariz, Idurre [Centro de Tecnologias Aeronauticas > > > >] |
| Pedrini, Giancarlo [Universität Stuttgart > Institut für Technische Optik > > > >] |
| Osten, Wolfgang [Universität Stuttgart > Institut für Technische Optik > > >] |
| Georges, Marc [Université de Liège - ULiège > > CSL (Centre Spatial de Liège) >] |
| Sep-2009 |
| Fringe 2009 |
| Osten, Wolfgang |
| Kujawinska, Malgorzata |
| Springer |
| 596-599 |
| No |
| No |
| International |
| 978-3-642-03050-5 |
| Berlin |
| Allemagne |
| Fringe 2009 - 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology |
| du 14 au 16 septembre 2009 |
| Universität Stuttgart |
| Nürtingen |
| Allemagne |
| [en] Infrared ; Speckle Interferometry |
| Union Européenne = European Union - UE = EU |
| Researchers ; Professionals ; Students |
| http://hdl.handle.net/2268/75164 |