Abstract :
[fr] A partir d’un design d'un système optique (spectromètre) existant, nous optimisons ce dernier à l’aide du logiciel commercial de simulation optique, Zemax. Ensuite, en se basant sur le principe de l’holographie, où les conditions de lecture d’un hologramme se réfèrent à celles de son enregistrement (ici, l’hologramme est le réseau holographique de diffraction, se trouvant dans le spectromètre), nous opérons des variations des paramètres d’enregistrement autour de ceux de lecture respectifs (optimisés), afin de trouver la géométrie optimale d’enregistrement.
En effet, la prise en compte de ces paramètres de lecture et d’enregistrement, dans la fonction de la différence du chemin optique, permet d’évaluer le poids des coefficients des différentes aberrations, et de déduire les paramètres optimaux d’enregistrement, correspondant au poids minimum des différentes aberrations.
Enfin, étant donné le coût élevé et la complexité de réaliser des réseaux holographiques de diffraction, particulièrement sur des surfaces non planes, nous proposons de procéder à la réplication du réseau de diffraction, du substrat plan au substrat non plan, en utilisant la nanolithographie par vaporisation assistée de solvant. En plus, cette réplication s’effectue en mesurant simultanément l’efficacité de diffraction en temps réel au cours de ce processus, ce qui permet d’utiliser le temps réellement utile pour une meilleure réplication.
