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Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)
Filtres fréquentiels à bande étroite par résonance de modes guidés
Lenaerts, Cedric; Moreau, Vincent; Lion, Yves et al.
2003 • In Actes du 4e Colloque Francophone "Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie"
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https://hdl.handle.net/2268/263391
 

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Keywords :
Optical metrology; Optical interferometry
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Lenaerts, Cedric ;  Université de Liège - ULiège > CSL (Centre Spatial de Liège)
Moreau, Vincent;  Université de Liège - ULiège > Physique > Hololab
Lion, Yves ;  Université de Liège - ULiège > Physique > Hololab
Renotte, Yvon  ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Optique - Hololab
Language :
French
Title :
Filtres fréquentiels à bande étroite par résonance de modes guidés
Publication date :
19 November 2003
Event name :
4e Colloque Francophone "Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie
Event organizer :
Club Cmoi (Contrôles et mesures optiques pour l'industrie) - Société Française d'Optique
Event place :
Belfort, France
Event date :
17 au 21 novembre 2003
Audience :
International
Main work title :
Actes du 4e Colloque Francophone "Méthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie"
Publisher :
Club Cmoi (Contrôles et mesures optiques pour l'industrie) - Société Française d'Optique, Paris, France
Pages :
Volume 2, pp. 532-537
Peer reviewed :
Peer reviewed
Available on ORBi :
since 14 September 2021

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