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Paper published in a journal (Scientific congresses and symposiums)
In-line phase-shifter calibration and drift measurement and compensation for digital speckle pattern interferometry (DSPI)
De Veuster, Christophe; Slangen, Pierre; Renotte, Yvon et al.
1996In SPIE Vol. 2951, SPIE Vol. 2951, p. 117-124
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Keywords :
Optical metrology; Optical interferometry; ESPI
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
De Veuster, Christophe;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Slangen, Pierre;  Ecole Nationale Supérieure des Techniques Industrielles et des Mines d'Alès (France)
Renotte, Yvon  ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Optique - Hololab
Berwart, Léon;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Lion, Yves ;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Language :
English
Title :
In-line phase-shifter calibration and drift measurement and compensation for digital speckle pattern interferometry (DSPI)
Publication date :
1996
Event name :
International Symposium on Advanced Imaging and Network Technologies, Berlin (Federal Republic of Germany)
Event organizer :
SPIE
Event place :
Berlin, Germany
Event date :
7 au 11 octobre 1996
Audience :
International
Journal title :
SPIE Vol. 2951
Publisher :
SPIE - International Society for Optical Engineering
Special issue title :
Holographic and Diffractive Techniques
Volume :
SPIE Vol. 2951
Pages :
117-124
Peer reviewed :
Peer reviewed
Available on ORBi :
since 29 August 2021

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