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Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)
Application du décalage de phase à la DSPI (Digital Speckle Pattern Interferometry)
Slangen, Pierre; Berwart, Léon; Renotte, Yvon et al.
1994 • In Opto 94, ESI Publications, Paris (1994)
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https://hdl.handle.net/2268/262812
 

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Keywords :
Optical metrology; Optical interferometry; ESPI
Abstract :
[fr] Application du décalage de phase à la DSPI (Digital Speckle Pattern Interferometry): exemples
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Slangen, Pierre;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Berwart, Léon;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Renotte, Yvon  ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Optique - Hololab
Lion, Yves ;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Language :
English
Title :
Application du décalage de phase à la DSPI (Digital Speckle Pattern Interferometry)
Publication date :
1994
Event name :
14th European Symposium on Optoelectronics
Event organizer :
EOS (European Optical Society)
Event place :
Paris, France
Event date :
26 au 28 avril 1994
Audience :
International
Main work title :
Opto 94, ESI Publications, Paris (1994)
Publisher :
EOS
Pages :
157-163
Peer reviewed :
Peer reviewed
Available on ORBi :
since 29 August 2021

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