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Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)
Moisture profiles determination during convective drying using X-ray microtomography
Léonard, Angélique; Blacher, Silvia; Marchot, Pierre et al.
2003In Proceedings of the 3rd World Congress on Industrial Process Tomography, Banff, Canada
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Disciplines :
Chemical engineering
Author, co-author :
Léonard, Angélique  ;  Université de Liège - ULiège > Département de chimie appliquée > Génie chimique - Opérations physiques unitaires - Département de chimie appliquée
Blacher, Silvia ;  Université de Liège - ULiège > Département des sciences cliniques > Labo de biologie des tumeurs et du développement
Marchot, Pierre ;  Université de Liège - ULiège > Département de chimie appliquée > Génie chimique - Systèmes polyphasiques
Pirard, Jean-Paul ;  Université de Liège - ULiège > Département de chimie appliquée > Génie chimique - Génie catalytique
Crine, Michel ;  Université de Liège - ULiège > Département de chimie appliquée > Génie chimique - Opérations physiques unitaires
Language :
English
Title :
Moisture profiles determination during convective drying using X-ray microtomography
Publication date :
September 2003
Event name :
3rd World Congress on Industrial Process Tomography
Event place :
Banff, Canada
Event date :
2-5 septembre 2003
Audience :
International
Main work title :
Proceedings of the 3rd World Congress on Industrial Process Tomography, Banff, Canada
Publisher :
International Society for Industrial Process Tomography
ISBN/EAN :
0-85316-240-9
Pages :
730-735
Peer reviewed :
Peer reviewed
Funders :
F.R.S.-FNRS - Fonds de la Recherche Scientifique [BE]
Available on ORBi :
since 09 August 2009

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