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Unpublished conference/Abstract (Scientific congresses and symposiums)
Electrical investigation of TCMs: role of structural defects and external stress
Langley, Daniel; Giusti, Gael; Consonni, Vincent et al.
20124th International Symposium on Transparent Conductive Materials (TCM 2012)
 

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Keywords :
TCM; Structural defects; Stress
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Langley, Daniel ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Physique des solides, interfaces et nanostructures
Giusti, Gael;  Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS > Grenoble INP > Laboratoire des Matériaux et du Génie Physique
Consonni, Vincent;  Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS > Grenoble INP > Laboratoire des Matériaux et du Génie Physique
Nguyen, Ngoc Duy  ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Physique des solides, interfaces et nanostructures
Bellet, Daniel;  Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS > Grenoble INP > Laboratoire des Matériaux et du Génie Physique
Bréchet, Yves;  Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS > Grenoble INP > Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
Language :
English
Title :
Electrical investigation of TCMs: role of structural defects and external stress
Publication date :
24 October 2012
Event name :
4th International Symposium on Transparent Conductive Materials (TCM 2012)
Event organizer :
University of Crete and IESL/FORTH, GREECE
Event place :
Hersonissos, Crete, Greece
Event date :
21-26/10/2012
Audience :
International
Available on ORBi :
since 16 February 2013

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