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Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)
Digital speckle pattern interferometry: a method to measure frequency response functions
De Veuster, Christophe; Slangen, Pierre; Renotte, Yvon et al.
1997 • In Bridge over virtual and real design
Peer reviewed
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https://hdl.handle.net/2268/262817
 

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Keywords :
Optical metrology; Optical interferometry; ESPI
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
De Veuster, Christophe;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Slangen, Pierre;  Ecole Nationale Supérieure des Techniques Industrielles et des Mines d'Alès (France)
Renotte, Yvon  ;  Université de Liège - ULiège > Département de physique > Optique - Hololab
Berwart, Léon;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Lion, Yves ;  Université de Liège - ULiège > Physique > HOLOLAB
Language :
English
Title :
Digital speckle pattern interferometry: a method to measure frequency response functions
Publication date :
1997
Event name :
IMAC-XV Japan
Event organizer :
Chuo University
Event place :
Tokyo, Japan
Event date :
1 au 4 septembre 1997
Audience :
International
Main work title :
Bridge over virtual and real design
Peer reviewed :
Peer reviewed
Available on ORBi :
since 29 August 2021

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