SIME : a comprehensive approach to fast transient stability assessment

Zhang, Y.; Rousseaux, Patricia; Wehenkel, Louis; Pavella, Mania

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Paper published in a book (Scientific congresses and symposiums)

SIME : a comprehensive approach to fast transient stability assessment

Zhang, Y.; Rousseaux, Patricia; Wehenkel, Louis et al.

1996 • In Proceeding of the IEE Japan'96 Conference

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https://hdl.handle.net/2268/129513

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Disciplines :

Electrical & electronics engineering

Author, co-author :

Zhang, Y.

Rousseaux, Patricia ; Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Système et modélisation

Wehenkel, Louis ; Université de Liège - ULiège > Dép. d'électric., électron. et informat. (Inst.Montefiore) > Systèmes et modélisation

Pavella, Mania ; Université de Liège - ULiège > Services généraux (Faculté des sciences appliquées) > Relations académiques et scientifiques (Sciences appliquées)

Language :

English

Title :

SIME : a comprehensive approach to fast transient stability assessment

Publication date :

1996

Event name :

IEE Japan'96 Conference

Event organizer :

IEE of Japan

Event place :

Osaka, Japan

Event date :

August 7-9

Main work title :

Proceeding of the IEE Japan'96 Conference

Pages :

177-182

Available on ORBi :

since 27 August 2012

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